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           電容測試儀儀器開路校正功能能消除與被測元件相并聯(lián)的雜散導納（G,B)造成的誤差。開路校正包括采用插入計算法的全頻開路校正和對所設定的頻率點進行的單頻開路校正。

            特別注意：當進行開路校正時應將測試夾具連接到電容測試儀儀器測試端。夾具開路，不連接到任何被測元件。

             按軟鍵ON，使開路校正有效，電容測試儀儀器將在以后的測試過程中進行開路校正計算。

             按軟鍵OFF,關(guān)閉開路校正功能。以后的測量過程中將不再進行開路校正的計算。

           按軟鍵開路全頻清，電容測試儀儀器將對可測試的頻率點的開路導納（電容和電感）進行測量。開路全頻校正大約需要15秒的時間。在開路全頻校正過程中，顯示軟鍵：放棄

           放棄軟鍵可中止當前的開路校正測試操作。保留原來的開路校正數(shù)據(jù)不變。